001-1 原子力顯微鏡（數量：1套、進(jìn)口）；

★一、功能需求

能夠在生理環(huán)境下對腫瘤細胞的微觀(guān)三維形貌和微觀(guān)力學(xué)性質(zhì)進(jìn)行高分辨成像和測量，同時(shí)可以結合倒置熒光顯微鏡對熒光標記物進(jìn)行高分辨形貌和力學(xué)測量

二、技術(shù)要求

1.掃描器

1.1掃描器為三軸分離平板閉環(huán)掃描器；非線(xiàn)性≤0.03%；XY掃描器范圍≥100 μm×100 μm；Z掃描器范圍≥15 μm；

★1.2三個(gè)掃描軸上都帶有獨立閉環(huán)傳感器，XY軸閉環(huán)傳感器噪音≤90pm RMS，Z軸閉環(huán)噪音≤30pm RMS（反饋端）；

1.3 Z掃描器， 掃描范圍≥1.5μm，用于快速掃描。

★1.4掃描方式：全針尖掃描方式，在整個(gè)掃描過(guò)程中，樣品保持不動(dòng)，以保證溶液下掃描的穩定性和安全性。

1.5針尖座：由大氣成像轉向溶液成像無(wú)需更換針尖座，可原位從氣相切換到液相掃描；

1.6光電探測器采集帶寬≥8 MHz，光學(xué)系統噪音≤2 pm RMS (0.1 Hz到1k Hz帶寬)

★1.7 在2μm掃描范圍下，最快掃描速度≥200Hz。

★1.8 具備自動(dòng)調節激光，自動(dòng)進(jìn)針，自動(dòng)優(yōu)化參數功能。

1.9 激光光源：采用低相干性激光光源，激光波長(cháng)≥860nm，避免與倒置熒光顯微鏡聯(lián)用時(shí)有相互干擾，減小對生物樣品的損傷。

1.10 掃描傾斜調整：具有多個(gè)電機馬達并可以獨立調節以實(shí)現任意角度傾斜掃描頭進(jìn)行形貌測試與力學(xué)測量，可以對大尺度的生物樣品進(jìn)行高質(zhì)量成像和精確力學(xué)測量。

1.11 液體環(huán)境成像：由空氣成像轉向溶液成像無(wú)需更換探針夾，實(shí)現從氣相到液相轉變的原位成像功能。探針夾可以通過(guò)超聲、清潔劑等手段方便清洗，耐腐蝕且可以高溫滅菌。

2.樣品臺：

★2.1樣品臺：最大可容納樣品尺寸不小于Φ140 mm；最大可容納樣品厚度不小于18 mm；

2.2此設備能與倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用，而且能夠實(shí)現原子力顯微鏡與倒置顯微鏡原位同時(shí)成像；

★2.3設備能夠結合倒置光學(xué)顯微鏡的所有功能，且不對倒置光學(xué)顯微鏡做任何修改（包括光路及機械設計部分）；

2.4 兼容性：樣品臺可以兼容倒置光學(xué)顯微鏡系統、熒光顯微鏡、激光共聚焦顯微鏡、全內反射、拉曼分析儀等，且不對倒置光學(xué)顯微鏡做任何修改（包括光路及機械設計部分），無(wú)需更換聚光鏡系統。

3.控制系統：

3.1 鎖相放大器：至少各一個(gè)高速（≥60 MHz）和中速（≥0.8 MHz）全數字化鎖相放大器；

3.2至少四組≥24位數模轉換器； 一組≥24位高精度模數轉換器；

★3.3可同時(shí)采集不少于25個(gè)通道的數據，最大采樣數量≥8192 x 8192；

3.4熱噪聲方法微懸臂校準頻率≥3.25 MHz

3.5 提供接觸模式、橫向力模式、輕敲模式、相位成像模式、峰值力輕敲模式、快速力譜成像模式以及peakforce-QI（峰值力-定量）成像模式。

3.6 智能掃描功能，以每點(diǎn)做力曲線(xiàn)的設計，控制針尖之上之下運動(dòng)，而不是接觸模式或者是輕敲模式。掃描過(guò)程中自動(dòng)設定掃描，采購人只需要選擇掃描速度及掃描范圍，系統即可自動(dòng)調整反饋,無(wú)需尋找共振峰,無(wú)需調整反饋參數gain值( 可直接液體環(huán)境成像)；

3.7 計算機工作站，性能不低于：CPU Intel Core i7-6700 內存：16GB (2x 8GB, DDR4-RAM)，硬盤(pán)1: SSD 800 256GB，硬盤(pán)2: SATA-600 WD WDC-WD40EZRZ-00W, 4TB，32英寸液晶顯示器

4. 培養皿加熱裝置：半導體加熱方式，溫度范圍：至少包含室溫到60 °C，控溫精度≤0.1°C, 升溫速度≥1°C/s。

5. 高級定量納米力學(xué)配件：基于力曲線(xiàn)的高速定量納米成像模式，使用正弦信號驅動(dòng)探針往復運動(dòng)來(lái)產(chǎn)生力曲線(xiàn)，在整個(gè)樣品表面通過(guò)力曲線(xiàn)進(jìn)行成像，工作頻率≥2kHz。利用探針和樣品之間的峰值力做反饋，峰值力(setpoint)值可低于10pN。并且在獲得高分辨率形貌圖像的同時(shí)，可獲得樣品的模量、粘附力、能量損耗、樣品變形量等力學(xué)信息。模量測試范圍覆蓋1kPa-100Gpa.

6. 微流變測試配件：對樣品的微觀(guān)流變學(xué)信息(儲能模量、損耗模量、損耗角)進(jìn)行微觀(guān)尺度的測量。可以在指定工作頻率下進(jìn)行流變學(xué)信息的空間分布成像。可以在指定一系列工作頻率下對特定位置進(jìn)行流變學(xué)信息的頻率響應譜采集。工作頻率最低≤1Hz，最高≥1kHz，且范圍內連續可調。

7. 光學(xué)圖像同步軟件模塊：自動(dòng)較正光學(xué)圖像，補償光學(xué)失真和變形，可實(shí)現光學(xué)圖像上直接選取感興趣區域進(jìn)行成像與力學(xué)測試。可實(shí)現光學(xué)圖像、微納形貌、力學(xué)信息等多種數據的實(shí)時(shí)疊加顯示。

8. 主動(dòng)減震臺：主動(dòng)防震頻率至少包含0.6 Hz至200 Hz，長(cháng)*寬尺寸不小于400*500mm。

9. 正置光學(xué)顯微鏡：可用來(lái)觀(guān)察不透明樣品，輔助尋找不透明樣品的掃描位置。采用同軸柯勒照明，不低于12X放大，分辨率不高于4μm。

10. 倒置熒光顯微鏡：

10.1 雙目鏡筒：10倍；

10.2 物鏡：10倍，20倍，40倍；

10.3 長(cháng)工作距離聚光鏡：工作距離≥73mm；數值孔徑≥0.3；包含Brightfield, Ph1, Ph2；

10.4 濾光片：DAPI, GFP, mCherry各1個(gè)

10.5 熒光激發(fā)波段：覆蓋360–770 nm

10.6 紫外光UV光源

11.探針：

11.1 半球形探針：1μm曲率半徑，19μm針尖高度，彈性常數已校正

11.2 半球形探針：5μm曲率半徑，23μm針尖高度，彈性常數已校正

11.3 輕敲模式探針：10nm曲率半徑

11.4 峰值力輕敲模式探針:2nm曲率半徑

★三、配置清單：配置清單中內容為必須滿(mǎn)足項，不參與打分，不得負偏離，否則投標無(wú)效。

1.掃描器 1個(gè)；

2.Z掃描器 1個(gè)；

3.樣品臺 1個(gè)；

4.控制系統 1套；

5.培養皿加熱裝置 1套

6.高級定量納米力學(xué)配件 1套

7.微流變測試配件 1套

8.光學(xué)圖像同步軟件模塊 1套

9.主動(dòng)減震臺 1臺

10.正置光學(xué)顯微鏡 1套

11.倒置熒光顯微鏡 1套

12. 半球形探針 10根（包含2種規格，每種規格各5根）

13. 輕敲模式探針 20根

14. 峰值力輕敲模式探針 30根